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詳細介紹
快速高精度外徑測量（塞規）和量塊比較儀
被時間驗證的技術——使用我們高放大倍數比較儀快
速而準確地測量外尺寸（塞規）系統
解決一個普遍的問題:高精度外徑的快速測量
我們TrendsetterTM儀器，由一個電子柱配合一個高速zui高點探測組件構成，迅速而準確的探
測并獲取圓柱工件的動態zui高點（拐點）。通過我們單頭比較儀接觸測量，簡單而快速地完成
圓柱工件外徑的測量。這個測量系統適合應用于接近公差的工件，特點是可選擇標尺在
0.0025毫米開始，且全量程0.05微米的分辨率。通過設置時間延時程序可手動或自動的激
活復位電路。為提高了它的多用性，它在公制或英制方式下均可操作。
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