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在線詢價圖片描述：
原子力顯微鏡AFM是利用測量探針與樣品之間的作用力，進行納米級的*高精度掃描分析。除了表面形貌還可以采用不同的測量模式分析材料的其他特性。掃描范圍從20um×20um到80um×80um。可應用于半導體行業、汽車制造、皮革
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