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集成電路IC芯片溫度沖擊測試機氣流儀

集成電路IC芯片溫度沖擊測試機氣流儀，ThermoTST TS580是一臺精密的高低溫沖擊氣流儀，具有的溫度范圍-80℃到+225℃，提供了很強的溫度轉換測試能力。

高低溫沖擊熱流儀采用純機械制冷，溫度轉換從-55℃到+125℃之間轉換約10秒，實現寬溫區快速切換，可提高測試的效率，實現電腦連接和控制, 對測試的自動化和無人值守提供了便捷。精準模擬5G設備在戶外基站、車載通信等場景中面臨的瞬時溫差沖擊。溫度均勻性控制技術，確保測試艙內溫度波動≤±0.5℃，避免局部過熱或過冷導致的測試誤差。

集成電路IC芯片溫度沖擊測試機氣流儀 特點

溫度變化速率快，-55℃至+125℃之間轉換約10秒

溫度范圍，-80℃至+225℃

結構緊湊，移動式設計

觸摸屏操作，人機交互界面

快速DUT溫度穩定時間

溫控精度±1℃，顯示精度±0.1℃

氣流量可高達18SCFM

除霜設計，快速清除內部的水汽積聚

應用

產品的特性分析、高低溫溫變測試、溫度沖擊測試、失效分析等可靠性試驗，如：

芯片、微電子器件、集成電路

（SOC、FPGA、PLD、MCU、ADC/DAC、DSP等）

閃存Flash、UFS、eMMC

PCBs、MCMs、MEMS、IGBT、傳感器、小型模塊組件

光通訊（如：收發器 Transceiver 高低溫測試、SFP 光模塊高低溫測試等）

其它電子行業、航空航天新材料、實驗室研究