絕緣電阻劣化系統(tǒng)高加速壽命老化試驗(yàn)箱

絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過長時(shí)間的測試(1~1000小時(shí))并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生，并記錄電阻值變化狀況，故又叫做CAF試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)，可進(jìn)行BHAST試驗(yàn)。

絕緣電阻劣化系統(tǒng)高加速壽命老化試驗(yàn)箱

應(yīng)用

PCB、焊料、助焊劑、涂層材料等，GBA、DSP等，IC封裝、電容器、連接器等電子器件及材料絕緣材料吸濕特性測試評(píng)估。

絕緣電阻劣化系統(tǒng)高加速壽命老化試驗(yàn)箱  特點(diǎn)：

高機(jī)能:采用驅(qū)動(dòng)計(jì)測測試時(shí)焊接工序大幅減少

軟件設(shè)計(jì)簡單明了，直觀易操作

遠(yuǎn)程監(jiān)控功能，可監(jiān)控試驗(yàn)過程。

便利性高:構(gòu)造裝著脫落式易進(jìn)行保養(yǎng)交換。可同時(shí)試驗(yàn)停止等聯(lián)動(dòng)裝置功能，系統(tǒng)構(gòu)成靈活。

測試自檢功能:點(diǎn)檢、校正方便。

設(shè)計(jì)精巧，不受場所限制，易移動(dòng)。

可靠性高:配有CF卡，以防設(shè)備故障數(shù)據(jù)丟失。以UPS作為系統(tǒng)的支撐，保證試驗(yàn)的安全繼續(xù)進(jìn)行