TP200
TP200系統組件包括：
- TP200或TP200B測頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動公差）
- TP200測針模塊 — 選擇固定越程測力：SF（標準測力）或LF（低測力）
- PI 200-3測頭接口
- SCR200測針交換架
還有一種EO模塊（長過行程），過行程測力與SF相同，但工作范圍更大，并在測頭Z軸方向提供保護。
特性與優點
- 應變片技術具有的重復性和精確的三維輪廓測量
- 零復位誤差
- 無各向同性影響
- 六向測量能力
- 測針測量距離達100 mm（GF測針）
- 測頭模塊快速交換，無需重新標定測尖
- 壽命 >1000萬次觸發
TP200/TP200B測頭本體
TP200采用微應變片傳感器，實現優異的測量重復性和精確的3D空間形狀測量精度，即使配用長測針時也不例外。
傳感器技術提供亞微米級的重復性，并且消除了機械結構式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數百萬次觸發中的可靠操作。
TP200B采用的技術與TP200相同，但允許更高的振動公差。這有助于克服因坐標測量機傳導振動或在移動速度很高的情況下使用長測針所引發的誤觸發問題。
請注意：我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄式/星形測針。
| 規格摘要 | TP200 | TP200B |
|---|---|---|
| 主要應用 | 用于需要高精度的數控坐標測量機。 | 與TP200一樣，但當出現誤觸發事件時。 |
| 感應方向 | 六軸：±X、±Y、±Z | 六軸：±X、±Y、±Z |
| 單向重復性 (2σ µm) | 電平觸發1：0.40 µm 電平觸發2：0.50 µm | 電平觸發1：0.40 µm 電平觸發2：0.50 µm |
| XY（2D）輪廓測量偏差 | 電平觸發1： ±0.80 µm 電平觸發2：±0.90 µm | 電平觸發1：±1 µm 電平觸發2：±1.2 µm |
| XYZ (3D) 輪廓測量偏差 | 電平觸發1：±1 µm 電平觸發2：±1.40 µm | 電平觸發1：±2.50 µm 電平觸發2：±4 µm |
| 測針交換的重復性 | SCR200：±0.50 µm（） 手動：±1 µm（） | SCR200：±0.50 µm（） 手動：±1 µm（） |
| 測力（測尖） | XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N | XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N |
| 越程測力（位移為0.50 mm時） | XY平面（SF / EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF / EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N | XY平面（SF / EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF / EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N |
| 重量（測頭傳感器和模塊） | 22 g | 22 g |
| 最長加長桿（如配在PH10 PLUS系列測座上） | 300 mm | 300 mm |
| 推薦的測針長度（M2測針系列） | SF / EO模塊：50 mm鋼質至100 mm GF LF模塊：20 mm鋼質至50 mm GF | SF / EO模塊：50 mm鋼質至100 mm GF LF模塊：20 mm鋼質至50 mm GF |
| 安裝方式 | M8螺紋 | M8螺紋 |
| 適合的接口 | PI 200-3、UCC | PI 200-3、UCC |
| 測針模塊交換架 | 自動：SCR200 手動：MSR1 | 自動：SCR200 手動：MSR1 |
| 測針系列 | M2 | M2 |
TP200測針模塊
測針模塊通過高重復性機械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測頭本體上，具有快速測針交換功能和測頭過行程保護功能。
有三種測針模塊可供選擇，具有兩種不同的越程測力。
| 模塊 | SF（標準測力） | LF（低測力） | EO（長過行程） |
|---|---|---|---|
| 應用程序 | 一般使用。 | 小直徑測球或必須使用最小測力的場合。 | 額外過行程使坐標測量機在較高的碰觸速度下安全停止并回退。 |
| 注釋 | 測針最長可達100 mm，測球直徑 > 1 mm。 | 測球直徑小于1 mm。 | 與SF的過行程測力相同。 測頭Z軸的額外過行程為8 mm。 |
SCR200交換架 
SCR200可以高速自動交換多達六個TP200測針模塊。SCR200由獨立的測頭接口 — PI 200-3供電，并可確保安全的測針交換。SCR200套件可包含低測力和標準測力組件，每一種套件都包含一個SCR200加上三個測力相同的測針模塊。
