中圖儀器SuperViewW1光學粗糙度輪廓檢測儀是解決形狀測量及表面粗糙度測量的光學儀器設備，集成X、Y、Z三個方向位移調整功能的操縱手柄，可快速完成載物臺平移、Z向聚焦、找條紋等測量前工作。除初級的軟件ZSTOP設置Z向位移下限位進行防撞保護外，另在Z軸上設計有機械電子傳感器，當鏡頭觸碰到樣品表面時，儀器自動進入緊急停止狀態，保護儀器，降低人為操作風險。
超精密加工
性能參數
| 型號 | W1 | |
| 光源 | 白光LED | |
| 影像系統 | 1024×1024 | |
| 干涉物鏡 | 標配:10× 選配:2.5×、5×、20×、50×、100× | |
| 光學ZOOM | 標配:0.5× 選配:0.375×、0.75×、1× | |
| 標準視場 | 0.98×0.98㎜（10×物鏡，光學ZOOM 0.5×） | |
XY位移平臺 | 尺寸 | 320×200㎜ |
| 移動范圍 | 140×100㎜ | |
| 負載 | 10kg | |
| 控制方式 | 電動 | |
| Z軸聚焦 | 行程 | 100㎜ |
| 控制方式 | 電動 | |
| 形貌重復性 | 0.1nm | |
| 粗糙度RMS重復性 | 0.005nm | |
| 臺階測量 | 準確度:0.3%;重復性:0.08%(1σ) | |
| 可測樣品反射率 | 0.05%~100 | |
| 主機尺寸 | 700×606×920㎜ | |
結果組成：
1、三維表面結構：粗糙度，波紋度，表面結構，缺陷分析，晶粒分析等；
2、二維圖像分析：距離，半徑，斜坡，格子圖，輪廓線等；
3、表界面測量：透明表面形貌，薄膜厚度，透明薄膜下的表面；
4、薄膜和厚膜的臺階高度測量；
5、劃痕形貌，摩擦磨損深度、寬度和體積定量測量；
6、微電子表面分析和MEMS表征。
產品特點
1、非接觸式測量：避免物件受損。
2、三維表面測量：表面高度測量范圍為1nm-10mm。
3、多重視野鏡片：方便物鏡的快速切換。
4、納米級分辨率：垂直分辨率可以達到0.1nm。
5、高速數字信號處理器：實現測量僅需要幾秒鐘。
6、掃描儀：采用閉環控制系統。
7、工作臺：氣動裝置、抗震、抗壓。
8、測量軟件：基于windows操作系統的用戶界面，強大而快速的運算。
主要應用領域
1、用于太陽能電池測量；
2、用于半導體晶圓測量；
3、用于鍍膜玻璃的平整度（Flatness)測量；
4、用于機械部件的計量；
5、用于塑料，金屬和其他復合型材料工件的測量。
SuperViewW1光學粗糙度輪廓檢測儀讓輪廓測量價格更為實惠，分辨率0.1μm，重復性0.1%，應用領域廣泛，操作簡便，可自動聚焦測量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數。適用于各種產品、部件和材料表面的平面度、彎曲變形情況、磨損情況、腐蝕情況、粗糙度、孔隙間隙、表面缺陷、波紋度、臺階高度、面形輪廓、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。能夠做到在線監測、數據分析、超差報警、數據存儲等，協助監測人員及時發現缺陷產生的原因。能有效監控相關設備的性能，實現表面質量判定自動化，減少了因表面缺陷而引起的損失。
