T補根據試驗室的非毀滅性亞微米光學顯微鏡的差別

Xradia410VersaT補了X射線光學顯微鏡與作用較弱的電子計算機斷層掃描儀(CT)系統軟件中間的差別。Xradia410Versa出示具備領域*佳分辨率，飽和度和原點作用的非毀滅性三維顯像，使您可以對于*普遍的樣本數開展開創性科學研究。應用這類功能齊全，經濟發展高效率的“主要”解決方法提高顯像工作內容，即便 在不一樣的試驗室自然環境中也是這般

靈便的試品規格和種類的領域的2D和原點工作能力

Xradia410VersaX射線光學顯微鏡可出示經濟發展高效率，靈便的三維顯像，使您可以解決各種各樣試品和科學研究自然環境。伴隨著時間的變化，非毀滅性X射線顯像能夠保存并拓展您珍貴試品的應用范疇。該儀器設備完成了0.9μm的真正室內空間分辨率，*小生完成的體素規格為100nm。優秀的消化吸收和相位差比照(適用軟塑或低Z原材料)為您出示更多用途，以擺脫傳統式電子計算機斷層掃描儀(工業CT)方式的局限。

XradiaVersa解決方法將科研拓展到超過根據投射的微米和納米CT系統軟件的極限。傳統式斷層掃描儀取決于單極變大倍數，Xradia410Versa選用根據同歩網絡加速器-規格自準直的與眾不同兩環節全過程。它便于應用，具備靈便的飽和度。長距離提升分辨率(RaaD)使您可以在原生態自然環境和各種各樣當場鉆探機中維持普遍的試品規格的亞微米分辨率。非毀滅性多長短限度作用容許您在各種各樣變大倍數下對同一試品開展顯像，進而能夠與眾不同地定性分析持續解決(2D)中間或遭受仿真模擬自然環境標準危害時原材料外部經濟構造特點的演化(原地不動)。

除此之外，Scout-and-Scan自動控制系統可根據根據秘方的設定完成高效率的工作內容自然環境，使Xradia410Versa便于為具備各種各樣工作經驗水準的客戶出示便捷。

優點

XradiaVersa構架選用二級變大技術性，使您可以在遠方(RaaD)與眾不同地完成分辨率。與傳統式的小型CT一樣，根據幾何圖形變大變大樣版圖象。在第二階段，閃動體將X射線轉化成能見光，隨后電子光學變大。降低對幾何圖形放大率的依靠使XradiaVersa儀器設備可以在很大的工作中間距內維持亞微米分辨率。這使您可以合理地科學研究*普遍的樣本數，包含在原點房間內。

非毀滅性三維顯像，以保存和拓展有使用價值的試品的應用

高室內空間分辨率低至<0.9μm，體素尺寸低至100nm

對于低Z原材料和皮下組織的優秀比照解決方法

領域lp的2D和原點作用，適用靈便的樣本數和種類

Scout-and-Scan™自動控制系統，便于應用的工作內容設定，是多客戶自然環境的理想化挑選

輕載試品臺和拓展源和探測儀臺行程安排

*少必須試品制取

根據好幾個變大監測系統輕輕松松導航欄

根據全自動多一點斷層掃描儀和反復掃描儀持續實際操作

髙速復建

可選擇的VersaInSituKit可機構適用自然環境室(如走線和管路)的設備，以完成*大的顯像特性和便于設定，另外為當場運用出示*高的三維分辨率

Autoloader選擇項使您能夠一次程序編寫和運作高達14個試品，進而*大限度地提升 生產率，完成高容掃描儀的自動化技術工作內容。