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miniled光電特性測(cè)試數(shù)字源表

參考價(jià)	￥ 1000
訂貨量	≥1 臺(tái)

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱武漢普賽斯儀表有限公司
品牌其他品牌
型號(hào)S系列
所在地武漢市
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間 2022-11-17
訪問(wèn)次數(shù)835

產(chǎn)品標(biāo)簽:

源測(cè)單元 miniled特性測(cè)試 miniled LIV測(cè)試 LIV測(cè)試儀光電特性LIV測(cè)試

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武漢普賽斯儀表有限公司坐落于國(guó)家*產(chǎn)業(yè)基地“武漢·中國(guó)光谷”，是一家集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售、服務(wù)于一體的技術(shù)型企業(yè)，擁有以碩士、博士學(xué)歷為主的研發(fā)團(tuán)隊(duì)和經(jīng)驗(yàn)豐富的管理服務(wù)團(tuán)隊(duì)。

普賽斯儀表自主研發(fā)的高精度臺(tái)式數(shù)字源表、脈沖式源表、集成插卡式源表、窄脈沖電流源、高精度高壓電源等，*國(guó)產(chǎn)空白。主要應(yīng)用于半導(dǎo)體器件的測(cè)試工藝，為客戶提供模塊化硬件、高效驅(qū)動(dòng)程序和高效算法軟件組合，幫助用戶構(gòu)建自定解決方案。為半導(dǎo)體封測(cè)廠家提供相關(guān)測(cè)試儀表、測(cè)試平臺(tái)，以及相關(guān)技術(shù)服務(wù)，滿足行業(yè)對(duì)測(cè)試效率、測(cè)試精度，以及低成本的挑戰(zhàn)。

武漢普賽斯將以服務(wù)客戶為中心，追求可持續(xù)發(fā)展為道路，精益求精，堅(jiān)持不懈，努力將自身打造成行業(yè)B桿。

展開(kāi)顯示更多內(nèi)容

源表,數(shù)字源表,脈沖源表,源測(cè)單元,SMU,脈沖電流源,VCSEL測(cè)試儀器,脈沖LIV

產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢價(jià)

產(chǎn)地	國(guó)產(chǎn)	售后保修期	12個(gè)月
銷售區(qū)域	全國(guó),華東,華南,華北,華中,東北,西南,西北,港澳臺(tái),海外

實(shí)施Mini LED光電特性參數(shù)分析的Z佳工具之一是數(shù)字源表（SMU）。數(shù)字源表作為獨(dú)立的恒壓源或恒流源，輸出恒壓或恒流、還可以當(dāng)作表，進(jìn)行電壓或者電流測(cè)量；支持Trig觸發(fā)，可實(shí)現(xiàn)與光譜儀，探針臺(tái)，分選機(jī)等第三方設(shè)備聯(lián)動(dòng)工作。miniled光電特性測(cè)試數(shù)字源表認(rèn)準(zhǔn)生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表

miniled光電特性測(cè)試數(shù)字源表產(chǎn)品信息

Mini LED光電特性測(cè)試
Mini LED芯片在被封裝前后，需要經(jīng)過(guò)檢測(cè)工序，以剔除其中的不合格品。其中，光電性能檢測(cè)是非常重要的指標(biāo)參數(shù)。光電性能檢測(cè)是指對(duì)晶圓上的芯片，或者封裝后的成品，對(duì)其電壓(V)、電流（I），V_FD，波長(zhǎng)(WD)、亮度(LOP)、抗靜電能力(ESD)，等光電性性能逐一進(jìn)行測(cè)試，得到實(shí)際數(shù)值，進(jìn)而為后續(xù)加工生產(chǎn)提供可靠的產(chǎn)品實(shí)際性能信息。由于Mini LED具有尺寸小，使用數(shù)量大等特性，因此，其光電特性測(cè)試也提出了新的要求。
高精度微弱電流
由于Mini LED本身的特性，正向點(diǎn)亮測(cè)試時(shí)，輸入電流較小，一般在mA，甚至微安級(jí)；反向高壓漏電流測(cè)試，電流甚至低至納安級(jí)。精確穩(wěn)定地輸出與測(cè)量電流，是獲取準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)的先決條件。
高效率
Mini LED生產(chǎn)工藝效率要求高，預(yù)留給芯片的電性能測(cè)試時(shí)間，一般控制在十幾ms以內(nèi)。高效快速的輸出與檢測(cè)電壓、電流，是提升生產(chǎn)效率的重要保證。
廣泛兼容性
Mini LED測(cè)試，往往需采用自動(dòng)化設(shè)備來(lái)進(jìn)行，且測(cè)試項(xiàng)目包含電壓，電流等電特性參數(shù)，以及光譜，光功率等光性能參數(shù)。廣泛的軟硬件兼容性，有助于終端用戶，根據(jù)實(shí)際測(cè)試要求，選配不同測(cè)試儀器，以及自動(dòng)化設(shè)備。
利用數(shù)字源表進(jìn)行Mini LED光電特性測(cè)試
實(shí)施Mini LED光電特性參數(shù)分析的Z佳工具之一是數(shù)字源表（SMU）。數(shù)字源表作為獨(dú)立的恒壓源或恒流源，輸出恒壓或恒流、還可以當(dāng)作表，進(jìn)行電壓或者電流測(cè)量；支持Trig觸發(fā)，可實(shí)現(xiàn)與光譜儀，探針臺(tái)，分選機(jī)等第三方設(shè)備聯(lián)動(dòng)工作。
目前，光電性能檢測(cè)是通過(guò)Mini LED點(diǎn)測(cè)機(jī)實(shí)現(xiàn)的，用于測(cè)量晶圓上每一顆芯片。點(diǎn)測(cè)機(jī)的主要結(jié)構(gòu)單元包括探針臺(tái)，電性能測(cè)試單元，光性能測(cè)試單元，以及上位機(jī)控制系統(tǒng)等。該工序根據(jù)實(shí)際情況，位于晶圓劃片前，或者后工序。設(shè)備基本構(gòu)成主要包括探針臺(tái)，電子顯微鏡，SMU，ESD，工控機(jī)，積分球，光譜儀等。其中，SMU的作用是對(duì)芯片進(jìn)行IV特性測(cè)試，同時(shí)在光學(xué)測(cè)試中，對(duì)芯片進(jìn)行供電。
常用的電性能測(cè)試項(xiàng)目包括，V_F1,V_F2,I_R,V_Z,V_FD,D_VF等。
⑴ V_F（正向電壓）測(cè)試， FIMV：一般會(huì)測(cè)兩個(gè)點(diǎn)， D一個(gè)點(diǎn)V_F1為 LED剛點(diǎn)亮?xí)r電壓，第二個(gè)點(diǎn)V_F2為LED 正常工作時(shí)的電壓；
⑵ V_Z（反向擊穿電壓）測(cè)試， FIMV：一定反向電流時(shí)，器件兩端的電壓;
⑶ I_R（反向泄露電流）測(cè)試， FVMI：一定反向電壓時(shí)，流過(guò)器件的電流；
⑸ D_VF 測(cè)試，材料熱縮效應(yīng)測(cè)試， FIMV：對(duì)LED施加兩次不同的電流，并計(jì)算不同條件下的電壓差；
⑹ V_FD 測(cè)試，正向電壓暫態(tài)峰值電壓測(cè)試， FIMV：對(duì)LED施加一定的正向電流，同時(shí)采集電壓變化，尖峰電壓與正常電壓的差值即為V_FD；
武漢普賽斯一直專注于半導(dǎo)體，LED，激光器的光電性能測(cè)試儀表開(kāi)發(fā)，基于核心算法和系統(tǒng)繼承等技術(shù)平臺(tái)優(yōu)勢(shì)，S先自主研發(fā)了高精度數(shù)字源表、脈沖式源表、窄脈沖源表、集成插卡式源表，Mini LED源表測(cè)試系統(tǒng)等產(chǎn)品，廣泛應(yīng)用在半導(dǎo)體，LED，激光器等產(chǎn)品的生產(chǎn)、研發(fā)、測(cè)試場(chǎng)景。可夠根據(jù)用戶的需求提供高性能，高效率，高性價(jià)比的半導(dǎo)體，LED，激光器測(cè)試系統(tǒng)級(jí)解決方案。miniled光電特性測(cè)試數(shù)字源表認(rèn)準(zhǔn)生產(chǎn)廠家武漢普賽斯儀表