TopMap Micro.View 臺式光學(xué)表面輪廓儀是易于使用且緊湊的光學(xué)輪廓儀。結(jié)合的性能及實惠價格并具有強大的計量解決方案并。Micro.View的垂直測量范圍可擴展到100 毫米和CST連續(xù)掃描技術(shù)，可在納米分辨率下測量復(fù)雜的形貌。這種便捷的桌面設(shè)置具有集成的電子設(shè)備，并帶有智能聚焦查找器，可簡化并加快測量過程。亮點1.在緊湊的裝置中測量表面光潔度2.非接觸式3D地形，粗糙度和紋理的測量3.采用CST連續(xù)掃描技術(shù)可達到100毫米垂直測量范圍4.高超的橫向分辨率5.可從特定于應(yīng)用程序中選擇面積小但具有功能擴展受益于可選的ECT環(huán)境補償技術(shù)，即使在嘈雜和充滿挑戰(zhàn)的生產(chǎn)環(huán)境中，也能確保可靠和準確的測量結(jié)果。Micro.View是一種經(jīng)濟有效的質(zhì)量控制儀器，用于在制造和研究中檢查精密的工程表面。TopMap Micro.View是您可以信賴的精密測量技術(shù)。相信我們的經(jīng)驗，相信我們的專業(yè)知識，相信我們的專家。