該系統輕松查找并精準定位器件內部斷點、微損傷點以及鏈路連接點。其事件點定位精度高達幾十微米,最小可探測到-80dB光學弱信號,廣泛用于光纖或光器件損傷檢測以及產品批量出貨合格判定。
產品特點:
超高采樣分辨率和定位精度
超寬動態范圍
可定制引纖長度,便于匹配實際測量環境
可定制掃描測量長度
支持多通道測量升級
主要應用:
光纖微裂紋檢測
硅光芯片、PLC波導瑕疵損耗檢測
FA光纖陣列鏈路性能檢測
光器件、光模塊內部耦合點、連接點性能檢測
參數:
主要參數 | ||
基礎參數 | ||
工作波長 1 | 1290 ~ 1330 | nm |
測量長度 2 | 6 | cm |
采樣分辨率 | 1 | μm |
長度分辨率 | 0.1 | mm |
測量時間 | <10 | s |
動態范圍 | -10 ~ -80 | dB |
硬件 | ||
輸入電壓 | AC 220/110V;DC 12V | - |
主機功率 | 50 | W |
通訊接口 | USB | - |
引纖長度 3 | 1 | m |
光纖接口 | FC/APC | - |
尺寸 | D 390 * W345 * H165 | mm |
重量 | 7.5 | kg |
儲藏溫度 | 0 ~ 50 | ℃ |
工作溫度 | 0 ~ 40 | ℃ |
工作濕度 | 10 ~ 70 | %RH |
備注:
可選其它波段;
可選配12cm或定制其他長度;
引纖長度可定制。