脈寬可調（芯片缺陷檢測用）
脈寬可調器（芯片缺陷檢測用）此系列激光器為單模激光器，通過內置從輸入的TTL/LVTTL數字信號中產生光脈沖。
脈寬可調納秒激光器（芯片缺陷檢測用）脈沖長度從1.5 ns -CW 連續可調，脈沖重頻 從單脈沖- 250 MHz可調
脈寬可調納秒激光器（芯片缺陷檢測用）對于針對應用（熱激光刺激(TLS),Thermal laser stimulation(TLS),芯片存儲讀取（BBRAM, SRAM）），有著如下特別優勢:
需求：需要盡可能小的光斑來加工待測芯片的集中部分，并定位正作用的芯片具體位置。
優勢：激光器為單模激光器。輸出纖芯尺寸為6μm，通過配套顯微鏡，可以將它聚焦到1μm以內，提高能流密度
需求：需要時間精度和時間靈活性來使激光脈沖與待測芯片同步、
優勢：每個激光器抖動小于8 ps。從而可以將PDM+與芯片同步，并在+/8ps時知道激光脈沖何時到達樣品。可以選擇從1.5納秒到連CW 脈沖以及從單次發射到250兆赫的任何脈沖
芯片硅很厚，需要高功率
優勢：有通過定制，峰值功率定制可達10 W。一般測量需要約1 W的功率。在2 W單模激光功率水平下，可以很容易地影響你的芯片，即使是很厚的硅
可靠性和產品支持
優勢：該系列激光器都是設計激光器。沒有光學移動部件或損失的風險。該模塊是電子安全的，不會因操作不當而損壞。
PDM - HPP系列激光器參數
脈寬可調納秒激光器（芯片缺陷檢測用） 主要特征：
脈沖持續時間:1 ns (FWHM)
單次脈沖、burst mode 或 連續
Max as 4 W峰值功率
抖動(< 8="">
可達 250 MHz重復頻率
包含脈沖延遲發生器
Python兼容
PDM HP 系列參數
