HIM 臥式非接觸影像量測儀(系統)
[HIM 系列 - 取代傳統光學投影機的機種]
A. 產品應用
可快速檢測各種複雜、精密零件之輪廓、表面尺寸、角度與位置，特別是精密零部件的微觀檢測與質量控制，並可用於產品開發、二維抄數等領域。適用如下之產業
- 半導體 如光罩、晶圓、系統晶片、互補式金屬氧化半導體等
- 封裝元件 如 TSOP、SOP、QFP、BGA 等
- PCB 產品 如 IC 板、模組電路板、軟性電路板等
- TFT 液晶螢幕 如背光板、LCM、BUL 等
- 電子產品 如測試座，多層陶瓷基版、電感、電容、電子元件等
- 橡塑膠 如 O 型環、相機組件、連接器等
- 沖壓產品 如導線架、馬達鐵芯、精密金屬板金、鐘錶零件、彈簧等
- 精度零件 如精密模具、刀具、機械零件等
- 光學通訊零組件、陶瓷套圈、光感測器等
- 、航天航空、高等院校、科研機構等
B. 產品特色
- 臥式Y軸向光源影像量測儀(系統)
- 影像量測儀採用 Sentech 高解析彩色攝影機CCD
- 放大倍率 0.3X~1.8X (10X~60X) 定倍式變焦鏡頭
- 光源 連續可調式LED燈 (表面光源+輪廓光源)
- 光學尺 ARCS 精密光學尺分辨率 0.5 μm
- 線性精度 (3+L/75) μm
- 重覆精度 0.003 mm
- 光學尺訊號傳輸方式RS232傳輸介面+SI-101量測軟體
- 基座 高剛性鑄鐵，具高精度及穩定性
- 高剛性鑄鐵工作平臺，穩定性好、精度高
- 電源 1~，AC110V~230V，50/60Hz
- 軟體 搭配SI-101、SI-102專業2.5D影像量測軟體，介面友好操作簡易
- 可直接導出、導入Dxf檔案進行編輯，適用批量檢測
- 具SPC報表統計輸出功能
*上述產品外觀、規格或功能如有異動，請以產品實物為主
