BETASCOPE

在所有 FISCHER 測量儀器中，BETASCOPE 可提供zui多的涂鍍層組合。通過 β 射線方法，BETASCOPE 無需依賴于樣品的磁性或電特性即可測量涂鍍層厚度。因此，它能夠測量任何底材上任何涂鍍層的厚度，只要涂層材料與底材的原子序數相差至少為 5 即可。作為通用測量系統 MMS PC2 的插件模塊，BETASCOPE 能夠與許多其他測量技術相結合，同時還可利用 MMS PC2 的優勢。

特性：

• 通過 β 射線背散射法進行無損測量
• 可測量幾乎所有的涂鍍層與底材組合
• 無需任何特殊制備，可隨時測量；測量過程只需幾秒鐘
• 測量無需任何化學品或耗材
• 測量符合標準 DIN EN ISO 3543 與 ASTM B567a
• 作為通用測量系統 MMS PC2 的插件模塊進行使用
• 多種附件可供選擇

應用領域：

• 納米涂層
• 太陽能電池涂層
• 單層電鍍層
• 各種底材上的有機涂層
• 防腐蝕涂層，如金屬生產與加工行業中的油覆層
• 薄膜、紡織品、織物以及其他有機涂覆層