推出的高精度光學測頭,能夠與HP-S-S2配合使用。該測頭能夠適應任何類型的表面測量任務,光圈在90°±40°范圍方向可調。
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HP-C-VE能夠安裝在測量機上,實現了大尺寸部件上面微小特征的放大測量。
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功能完善的交鑰匙方案,通過快速點云采集,完成與CAD比較測量、自由曲面檢測以及逆向工程等任務。
HP-L-20.8激光掃描測頭
自動實現光強的調整,為復雜形狀和各種材料的掃描提供了的方案。