半導體特性曲線分析儀之數字源表認準普賽斯儀表,國產自主研發,性價比高,測試范圍更廣,輸出電壓高達300V,支持USB存儲,一鍵導出報告,符合大環境下國內技術自給的需求,可及時與客戶溝通,為客戶提供高性價比系統解決方案,及時指導客戶編程,加速測試系統開發
以下是源表的典型應用領域:
納米材料與器件
– 石墨烯
– 碳納米管
– 納米線
– 低功耗納米結構
• 半導體結構
– 晶圓
– 薄膜
• 有機材料與器件
– 電子墨水
– 印刷電子技術
• 能量效率與照明
– LED/AMOLED
– 光伏/太陽電池
– 電池
• 分立器件與無源組件
– 雙引線: 電阻器、二極管、齊納二極管、LED、傳感器
– 三引線: 小信號雙極節型晶體管(BJT)、場效應晶體管 (FET),等等
• 材料特性分析
–電阻率
–霍爾效應
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