詳細說明
特點優勢：
● 配有寬范圍且高分辨力的 Z 軸檢出器。
● 測量范圍
Z1 軸 (檢出器): 5mm (分辨力: 0.0008μm*測量范圍為0.05mm時適用)
X 軸: 100mm (分辨力: 0.05μm)
● 檢出器的延伸量：大70mm (可固定在所需的位置)。
● 使用FORMTRACEPAK 軟件提供了豐富多樣的分析功能以實現優良的表面紋理評估。
規格參數：
| 貨號 | CS-3200S4 | ||
| | X 軸 | 100mm/0.05µm | |
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| | 5mm/0.08µm | |
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| 0.5mm/0.008µm | |
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| 0.05mm/0.0008µm | |
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| Z2 軸 (立柱) | 1 µm | |
| 精度 | X 軸 | ±(0.8+0.01L) µm (L= 測量長度(mm)) | |
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| Z1 軸 (檢出器) | ±(1.5+|2H|/100) µm H = 水平位置上的測量高度 (mm) | |
| | 直線度 (X 軸) | 正常使用下 | 0.2µm/100mm |
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| 當伸出到大程度 | 0.4µm/100mm |
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| 測量速度 | 表面粗糙度測量 | 0.02, 0.05, 0.1, 0.2mm/s (4-step) |
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| 輪廓測量 | 0.02, 0.05, 0.1, 0.2, 0.5, 1.0, 2.0mm/s (7級) |
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| 驅動速度 | X 軸 (水平方向) | 0 to 80mm/s 外加手動 |
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| Z2 軸 (垂直方向) | 0 to 20mm/s 外加手動 |
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| 上/下移動 | 300mm (電動) | |
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| 傾角范圍 | ±45º | |
| | 檢出方式 | 差動感應 | |
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| 測力 | 0.75mN | |
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| 測針名稱 | 標準測針 (用于粗糙度/輪廓測量) | 針尖角度: 60º 圓錐, 針尖半徑: 2µm, 金剛石針尖 |
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| 圓錐型 (用于輪廓測量) | 針尖角度: 30º 圓錐, 針尖半徑: 25µm, 藍寶石針尖 |
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| 測針上/ 下運作 | 適用 (可在半空停頓) | |
注:雖然天然石材測量桌的外觀各有不同，但材料的穩定性是值得信賴的。
