詳細說明
COULOSCOPE CMS2 系列儀器通過電解退鍍方式測量鍍層厚度。還可使用庫侖法精確測定任何類型底材上的多鍍層厚度。CSM2 STEP 版本可對單種鍍層進行標準的STEP測試,以檢測電位差(如多層鎳涂層的質量控制)。
特性:
● 使用準確性高的電解退鍍技術(庫侖法),精確地測量多鍍層的厚度
● 圖形顯示的交互方式,易于操作
● 適用性廣泛:可測量金屬和非金屬底材上的鍍層厚度,也適合測量多鍍層厚度
● 提供全面的附件產品供您選擇,可滿足特定需求
應用:
● 金屬和非金屬底材上任何類型的金屬鍍層
● 單層或多層的鍍層厚度測量
● 特別適用于通過 STEP 測試進行多層鎳測量
● 適用于 0.05 µm 至 40 µm 的鍍層厚度測量