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德國 EPK 涂層測厚儀 1100/2100/3100/4100

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱北京易爾豐德計量科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地
  • 廠商性質生產廠家
  • 更新時間 2021-07-20
  • 訪問次數427
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北京易爾豐德計量科技有限公司,集經銷研發為一體,專業經營計量器材,質檢設備,測試儀器。可供資源從普通卡尺到為客戶定制的高精度測量儀器,覆蓋了高精度手持測量工具到復雜的測量系統。除國產精品外,還包括來自德國,瑞士,英國,日本等國家的產品。應用領域涉及機械、電子、航空、航天等,擁有從工廠、研究所、計量站到國家等廣泛的客戶。在提供優質的產品同時,還注重提供優質的技術咨詢、技術培訓及完善的售后服務。??公司擁有多名經驗豐富的計量行業高級工程師,為您林林總總的測量問題找到合理的解決方案,以進一步提高您的產品品質。??北京易爾豐德計量科技有限公司和您一起為致力提高您的產品質量和生產效率而不懈努力!
數字式投影儀,大型工具顯微鏡,圓柱度儀,三坐標測量機
德國EPK(Elektrophysik)公司涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100特點:MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能;所有型號均可配所有探頭;可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;可使用一片或二片標準箔校準
德國 EPK 涂層測厚儀 1100/2100/3100/4100 產品信息

德國EPK(Elektrophysik)公司
涂鍍層測厚儀MiniTest1100/2100/3100/4100特點:
MiniTest1100/2100/3100/4100
包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能;
所有型號均可配所有探頭;
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;
可使用一片或二片標準箔校準。

技術特征

 

型號

1100

2100

3100

4100

MINITEST 存儲的數據量

應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數)

1

1

10

99

每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計計算,并可設寬容度極限值)

 

1

10

99

可用各自的日期和時間標識特性的組數

 

1

500

500

數據總量

1

10000

10000

10000

MINITEST統計計算功能

讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar

 

讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

 

 

組統計值六種x,s,n,max,min,kvar

 

 

組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

 

 

存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據

 

 

 

分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值

 

 

顯示并打印測量值、打印的日期和時間

 

其他功能

設置極限值

 

 

連續測量模式快速測量,通過模擬柱識別最小值

 

 

連續測量模式中測量穩定后顯示讀數

 

 

連續測量模式中顯示最小值

 

 

 

可選探頭參數

所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能

 

探頭

量程

低端
分辨率

誤差

最小曲率半徑
(凸/凹)

最小測量
區域直徑

最小基
體厚度

探頭尺寸




F05

0-500μm

0.1μm

±(1%±0.7μm)

1/5mm

3mm

0.2mm

φ15x62mm

F1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170mm

F2/90

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170mm

F3

0-3000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F10

0-10mm

5μm

±(1%±10μm)

5/16mm

20mm

1mm

φ25x46mm

F20

0-20mm

10μm

±(1%±10μm)

10/30mm

40mm

2mm

φ40x66mm

F50

0-50mm

10μm

±(3%±50μm)

50/200mm

300mm

2mm

φ45x70mm


FN1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50μm

φ15x62mm

FN1.6P

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面

30mm

F0.5mm/N50μm

φ21x89mm

FN2

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50μm

φ15x62mm




N02

0-200μm

0.1μm

±(1%±0.5μm)

1/10mm

2mm

50μm

φ16x70mm

N.08Cr

0-80μm

0.1μm

±(1%±1μm)

2.5mm

2mm

100μm

φ15x62mm

N1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

2mm

50μm

φ15x62mm

N1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面/10mm

5mm

50μm

φ13x13x170mm

N2

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

50μm

φ15x62mm

N2/90

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平面/10mm

5mm

50μm

φ13x13x170mm

N10

0-10mm

10μm

±(1%±25μm)

25/100mm

50mm

50μm

φ60x50mm

N20

0-20mm

10μm

±(1%±50μm)

25/100mm

70mm

50μm

φ65x75mm

N100

0-100mm

100μm

±(1%±0.3mm)

100mm/平面

200mm

50μm

φ126x155mm

CN02

10-200μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平面

7mm

無限制

φ17x80mm

 

F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內測量。
N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

關鍵詞:測厚儀

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