普賽斯數(shù)字源表電性能測(cè)試光敏電阻測(cè)試方案
N≤3路光敏電阻測(cè)試:
推薦N臺(tái)S100
4≤N ≤12路光敏電阻測(cè)試:
推薦CS400子卡+1003C主機(jī):
CS400支持4通道測(cè)試,1003C主機(jī)最多支持3卡,12通道使用3*CS400+1*1003C
12≤N ≤40路光敏電阻測(cè)試:
推薦CS400子卡+1010C主機(jī):
CS400支持4通道測(cè)試,1010C主機(jī)最多支持10卡, 40通道使用10*CS400+1*1003C
40≤N 路光敏電阻測(cè)試:
使用上述主機(jī)組合配置
以8通道測(cè)試方案為例,介紹以下兩種檢測(cè)方案:
方案一、8臺(tái)S100臺(tái)式數(shù)字源表同步測(cè)試
方案二、1003C+2*CS400 數(shù)字源表
3槽主機(jī)、2塊4通道板卡共8通道同步測(cè)試
普賽斯數(shù)字源表具體參數(shù)如下:
S100測(cè)試范圍:
CS400測(cè)試范圍:
以上是關(guān)于8通道數(shù)字源表電性能測(cè)試光敏電阻案例的方案介紹,更多有關(guān)數(shù)字源表測(cè)試光敏電阻的信息找普賽斯儀表專(zhuān)員為您介紹