日本日置阻抗分析儀IM3570概述
1臺儀器實(shí)現(xiàn)不同測量條件下的高速檢查
阻抗分析儀IM3570測量方式：壓電元件的共振特性的測量
LCR測試儀和阻抗分析儀合二為一的IM3570通過掃頻測量和峰值比較器功能對共振狀態(tài)進(jìn)行合格判定，并在LCR模式想能通過1kHz或120Hz的LCR測量進(jìn)行檢查。掃頻測量和LCR測量一臺儀器全部實(shí)現(xiàn)。

僅需輸入數(shù)值即可輕松計(jì)算精度。
阻抗分析儀精度計(jì)算軟件請點(diǎn)擊
日本日置阻抗分析儀IM3570特點(diǎn)
★ 1臺儀器實(shí)現(xiàn)LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續(xù)測量和高速檢查
★ LCR模式下樶快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量
★ 基本精度±0.08%的高精度測量
★ 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量
★ 分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量
★ 可以用于無線充電評價系統(tǒng)TS2400
日本日置阻抗分析儀IM3570選型指南
測量模式 LCR（LCR測量），分析儀（掃描測量），連續(xù)測量 
測量參數(shù) Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流電阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q 
測量量程 100mΩ~100MΩ，12檔量程（所有參數(shù)由Z確定） 
顯示范圍 Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[單位]~9.999999G[單位]，僅Z和Y顯示絕對值θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999）Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%） 
基本精度 Z：±0.08%rdg. θ：±0.05° 
測量頻率 4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步進(jìn)） 
測量信號電平 V模式，CV模式（普通模式）50mV~1Vrms，1mVrms步進(jìn)（1MHz以下）10mV~1Vrms，1mVrms步進(jìn)（1.0001MHz以上）CC模式（普通模式）10μA~50mA rms，10μA rms步進(jìn)（1MHz以下）10μA~10mA rms，10μA rms步進(jìn)（1.0001MHz以上） 
輸出阻抗 普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω 
顯示 彩色TFT5.7英寸，可設(shè)置顯示ON/OFF 
測量時間 0.5ms（100kHz，F(xiàn)AST，顯示OFF，代表值） 
測量速度 FAST/MED/SLOW/SLOW2 
其他功能 DC偏壓測量，比較功能，面板讀取和保存，存儲功能 
接口 EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通訊，U盤，LAN 
電源 AC90~264V，50/60Hz，樶大150VA 
打印 拷貝測量值或屏幕顯示的要點(diǎn)（需用9442，9593-01和9446） 
接口 GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有標(biāo)準(zhǔn)) 
電源 AC90~264V，50/60Hz，樶大150VA 
體積和重量 330W×119H×307Dmm，5.8kg