是德8164B主機是光學元件測試的基礎平臺

可作為一種是德可調激光源及***多四種緊湊型模塊的主機。+B458 8164A光波測量系統

主要技術規格

顯示：640 x 480

顯示分辨率：0.0001dB/dBm、0.01pW和10pW

觸發器：所有通路真正同步

8164B 光波測量系統
主要特性與技術指標
Features
1 Slot for hosting a tunable laser source
4 Slots for hosting power modules, return loss modules, compact tunable lasers or fixed laser sources
Built-in applications: (Passive Component Test, Stability, Logging)
Extended system trigger and clocking system 
描述
是德8164B主機是光學元件測試的基礎平臺，可作為一種是德可調激光源及***多四種緊湊型模塊的主機。+B458 8164A光波測量系統
主要技術規格
顯示：640 x 480
顯示分辨率：0.0001dB/dBm、0.01pW和10pW
觸發器：所有通路真正同步
81642A 可調激光源
主要特性與技術指標
Wavelength Range: 1510nm to 1640nm
Max.Output Power: + 7dBm
Wavelength Accuracy (abs.): ±0.015nm
Wavelength repeatability (typ.): ±0.5 pm
描述
是德81482A可調激光源同時覆蓋了C-及L-Band。用高激勵功率測試光放大器和測試被動元件。

該是德標有"A"的可調諧激光光源已被81642B取代，但可以升級。

特性：

可在DWDM兩個波段中運行（C和L波段）
連續掃描整個波長范圍
光學放大器測試高功率光纖輸出
內置實時波長表
整個波長范圍的免跳模調整
兩種光纖輸出都配備了Panda型極化維護光纖
主要技術規格

波長范圍：1510nm到1640nm
***大輸出功率：+7dBm
波長精確度(abs.)：±0.015nm
波長重復性 (typ.)：±0.5 pm
波長穩定性 (typ.)：<±1pm
信號與源的自發發射比率：
≥45dB/nm(1530-1620nm)
信號與所有源的自發發射比率：
≥27dB(typ. 1530-1610nm)