平行平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來(lái)測(cè)量被測(cè)量面的誤差程度。
平行平晶具有高精度的平面性和平行性。
平行平晶用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測(cè)量面的平面度和兩相對(duì)測(cè)量的平行度。平行平晶共分四個(gè)系列,每個(gè)系列各分六組,每組四塊。
平行平晶功能:平行平晶用于干涉法測(cè)量千分尺、卡規(guī)和千分表等測(cè)量面平面度、平面平行度。
平行平晶產(chǎn)品規(guī)格:
每組平行平晶共四塊,分四個(gè)尺寸系列組
測(cè)量面上平面度偏差: μ
平面度局部偏差: μ
測(cè)量面平行度誤差: 組Ⅰ系列允差值:μ
組Ⅱ、Ⅲ系列允差值:μ
組Ⅳ系列允差值:μ
組Ⅰ | 平行平晶 | 0- | 4塊組 |
組Ⅱ | 平行平晶 | 25- | 4塊組 |
組Ⅲ | 平行平晶 | 50- | 4塊組 |
組Ⅳ | 平行平晶 | 75- | 4塊組 |
平行平晶尺寸系列表
組號(hào) | 0- | 25- | 50- | 75- |
1 | 15.00, | 40.00, | 65.00, | 90.00, |
2 | 15.12, | 40.12, | 65.12, | 90.12, |
3 | 15.25, | 40.25, | 65.25, | 90.25, |
4 | 15.37, | 40.37, | 65.37, | 90.37, |
5 | 15.50, | 40.50, | 65.50, | 90.50, |
6 | 15.62, | 40.62, | 65.62, | 90.62, |